一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法

本发明涉及一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法。本发明主要考虑如何获得更准确的切片以及如何将切片与可疑列表相结合，首先对程序的失败测试使用断言切换技术找出所有的关键断言；然后对该失败测试进行切片，获取到切片；接着，采用频谱技术对程序分析，即执行程序的所有测试用例收集到频谱信息，利用频谱信息计算出所有可疑元素以及对应的怀疑度分数；最后基于所获得的切片以及怀疑度分数重新计算出新的可疑列表对缺陷进行定位。本发明增强了切片和频谱组合技术对于一些遗漏型缺陷的定位，并进一步提高了切片与频谱技术结合后的定位准确率和效率。

《一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法》是一发明专利，专利号为 2021114801448，当前法律状态为已下证，由杭州电子科技大学提出申请，发明人为方景龙;谢世豪;魏丹;陈滨;王兴起，申请日期为2021-12-06，公开（公告）日期为2025-04-29，国际专利分类号（IPC）为 G06F 11/3668 (2025.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：智能软件，软件开发，软件测试，软件安全检测，软件设计，软件工程，程序检测，服务器检测，软件缺陷定位，软件调试，互联网软件，嵌入式软件，工业控制软件，移动端软件。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明涉及一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法。本发明主要考虑如何获得更准确的切片以及如何将切片与可疑列表相结合，首先对程序的失败测试使用断言切换技术找出所有的关键断言；然后对该失败测试进行切片，获取到切片；接着，采用频谱技术对程序分析，即执行程序的所有测试用例收集到频谱信息，利用频谱信息计算出所有可疑元素以及对应的怀疑度分数；最后基于所获得的切片以及怀疑度分数重新计算出新的可疑列表对缺陷进行定位。本发明增强了切片和频谱组合技术对于一些遗漏型缺陷的定位，并进一步提高了切片与频谱技术结合后的定位准确率和效率。

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