技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种芯片检测用测试装置。

背景技术

芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体，“芯片”和“集成电路”这两个词经常混着使用，比如在大家平常讨论话题中，集成电路设计和芯片设计说的是一个意思，芯片行业、集成电路行业、IC行业往往也是一个意思，实际上，这两个词有联系，也有区别，集成电路实体往往要以芯片的形式存在，因为狭义的集成电路，是强调电路本身，比如简单到只有五个元件连接在一起形成的相移振荡器，当它还在图纸上呈现的时候，我们也可以叫它集成电路，当我们要拿这个小集成电路来应用的时候，那它必须以独立的一块实物，或者嵌入到更大的集成电路中，依托芯片来发挥他的作用；集成电路更着重电路的设计和布局布线，芯片更强调电路的集成、生产和封装，而广义的集成电路，当涉及到行业(区别于其他行业)时，也可以包含芯片相关的各种含义。

芯片作为集成电路的一种载体，经过制造后由于在制造的过程中会发生电路啮合的偏移，以及制造时所使用的电路出现短路的现象，则会导致芯片的无法使用，因此芯片制造后往往需要进行芯片测试，现有的芯片检测用测试装置在对芯片进行检测时需要操作人员逐一进行芯片放置，从而影响芯片生产的速度，对产品的产量具有很大的影响。

发明内容

本发明提供了一种芯片检测用测试装置，具备自动检测以及便于调节检测装置的优点，解决了操作人员逐一进行芯片放置测试，影响芯片的生产速度的问题。

本发明提供如下技术方案：一种芯片检测用测试装置，包括芯片检测台，所述芯片检测台的顶端固定安装有固定杆，所述芯片检测台的顶端固定安装有支架，所述支架的数量为两个，两个所述支架以芯片检测台的轴心为中心对称分布，两个所述支架的内部均活动连接有滚动转筒，两个所述滚动转筒的两端均固定连接有转杆，所述滚动转筒通过转杆活动连接至支架的内部，所述转杆的一端贯穿支架并延伸至支架的外侧面，两个所述滚动转筒的外侧面活动套接有输送带，所述芯片检测台的顶部固定安装有固定架，两个所述固定架的顶端固定连接有传动箱，所述传动箱的内部固定安装有支撑底座，所述支撑底座的内部活动连接有旋转杆，所述旋转杆的外侧面固定套接有旋转盘，所述旋转盘的外侧面与支撑底座的内壁相接触，所述旋转杆的两端均贯穿支撑底座并延伸至支撑底座的外侧面，所述旋转盘的外侧面固定连接有搭接板，所述旋转杆的外侧面活动套接有第一传动带，所述第一传动带的一端贯穿传动箱并延伸至传动箱的外侧面，所述第一传动带的另一端与转杆的外侧面活动连接，所述传动箱的内部固定安装有连接板，所述转盘的内部固定连接有圆杆，所述转盘通过圆杆活动连接至连接板的内部，所述转盘的外侧面固定套接有转杆，所述转杆的数量为两个，所述转杆的外侧面与搭接板的外侧面相接触，所述传动箱的内部固定安装有电机盒，所述圆杆的一端延伸至电机盒的内部，所述圆杆的一端与电机盒电机的输出端固定连接，所述固定杆的外侧面活动套接有滑动环，所述滑动环的内部螺纹连接有调节螺杆，所述滑动环的外侧面固定连接有承重板，所述承重板的内部固定连接有检测支杆，所述检测支杆的两端均贯穿承重板并延伸至承重板的外侧面，所述检测支杆的底端固定套接有收缩套筒，所述检测支杆的底端延伸至收缩套筒的内部，所述收缩套筒的内部固定连接有套接支环，所述套接支环的内部活动连接有测试杆，所述测试杆的两端均贯穿套接支环并延伸至套接支环的外侧面，所述测试杆的顶端固定连接有延伸杆，所述检测支杆的底端开设有延伸孔，所述延伸孔的内壁开设有滑动槽，所述延伸杆的顶端延伸至延伸孔的内部，所述延伸杆的外侧面固定连接有滑动杆，所述输送带的顶部固定连接有固定连杆，所述固定连杆的底端固定连接有旋转环，旋转环的内部活动连接有连接圆杆，所述连接圆杆的外侧面固定连接有衔接板，所述输送带的底端固定连接有限制杆，所述限制杆的内部固定连接有弹簧套筒，所述弹簧套筒的内部活动连接有弹簧支撑杆，所述弹簧支撑杆的一端贯穿弹簧套筒并延伸至弹簧套筒的外侧面，所述弹簧支撑杆的外侧面活动套接有限制弹簧，所述弹簧支撑杆的外侧面固定套接有限位板，所述限制弹簧的右端与弹簧套筒的内壁相接触，所述限制弹簧的另一端与限位板的外侧面固定连接，所述芯片检测台的内部开设有液压槽，所述液压槽的内部固定连接有液压装置，所述液压装置的内部活动连接有液压杆，所述液压杆的顶端固定连接有推板，所述芯片检测台的顶部设有芯片放置箱，所述液压杆的顶端贯穿液压槽并延伸至芯片放置箱的内部。

优选的，所述固定架的数量为两个，两个所述固定架宽度值的大小大于输送带宽度值的大小。

优选的，两个所述滚动转筒位于同一水平面，所述输送带位于支架的内部，所述输送带的外侧面与支架的内壁相接触。

优选的，所述测试杆的底端延伸至收缩套筒的外侧面，所述测试杆的底部固定连接有检测头。

优选的，所述延伸杆的外侧面活动套接有支撑弹簧，所述支撑弹簧的顶端与检测支杆的底部固定连接，所述支撑弹簧的底端与测试杆的顶部固定连接。

优选的，所述芯片检测台的内部固定连接有定时装置，所述定时装置与液压装置固定连接。

优选的，所述滑动杆的数量为两个，两个所述滑动杆的一端均延伸至滑动槽的内部，两个所述滑动杆的外侧面与滑动槽的内壁相接触。

优选的，所述芯片检测台的顶端固定安装有转动支架，转筒支架的内部通过圆柱杆活动连接有转动筒，所述圆柱杆的外侧面活动套接有第二传动带，所述圆柱杆通过第二传动带与转杆的外侧面活动连接。

优选的，所述转动筒的外侧面固定连接有套杆，所述套杆的外侧面与芯片的底部相接触，转动支架的右侧面内设有倾斜滑台。

本发明具备以下有益效果：

1、该芯片检测用测试装置，通过芯片放置箱的内部放置有芯片，芯片经液压杆顶端的推板，使得芯片放置箱内部的芯片推至两个衔接板之间，配合传动箱内部的电动机带动转盘的旋转，转盘的外侧面固定连接有转杆与旋转盘外侧面的搭接板相接触，从而使得搭接板进行定时转动，又配合第一传动带带动输送带的旋转，从而实现输送带的定时转动，避免输送带的持续转动，对芯片的检测不够全面。

2、该芯片检测用测试装置，通过旋转调节螺杆使得滑动环得以调节，检测支杆的底端固定套接有收缩套筒，收缩套筒的内部设有测试杆，测试杆的底端固定连接有检测头，测试杆的顶部固定连接有支撑弹簧使得测试杆得以进行缓冲按压，避免检测头的重击，芯片检测台的顶部设有转动筒以及转动筒外侧面的套杆将两个衔接板之间的芯片取下。

附图说明

图1为本发明正面结构示意图；

图2为本发明正面剖视结构示意图；

图3为本发明图2中局部结构侧面剖视示意图；

图4为本发明图2中局部结构仰视示意图；

图5为本发明图2中A处结构的放大示意图。

图中：1、芯片检测台；2、定时装置；3、液压杆；4、液压装置；5、液压槽；6、滑动杆；7、芯片放置箱；8、传动箱；9、固定架；10、支撑底座；11、第一传动带；12、支架；13、搭接板；14、旋转杆；15、旋转盘；16、转杆；17、转盘；18、连接板；19、圆杆；20、电机盒；21、输送带；22、滚动转筒；23、转杆；24、第二传动带；25、转动筒；26、套杆；27、圆柱杆；28、固定杆；29、滑动环；30、检测支杆；31、承重板；32、支撑弹簧；33、收缩套筒；34、测试杆；35、检测头；36、套接支环；37、延伸杆；38、滑动槽；39、延伸孔；40、限制杆；41、限制弹簧；42、弹簧套筒；43、衔接板；44、连接圆杆；45、限位板；46、弹簧支撑杆；47、固定连杆；48、推板。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-5，一种芯片检测用测试装置，包括芯片检测台1，芯片检测台1的顶端固定安装有固定杆28，芯片检测台1的顶端固定安装有支架12，支架12的数量为两个，两个支架12以芯片检测台1的轴心为中心对称分布，两个支架12的内部均活动连接有滚动转筒22，两个滚动转筒22位于同一水平面，输送带21位于支架12的内部，输送带21的外侧面与支架12的内壁相接触，两个滚动转筒22的两端均固定连接有转杆23，滚动转筒22通过转杆23活动连接至支架12的内部，转杆23的一端贯穿支架12并延伸至支架12的外侧面，两个滚动转筒22的外侧面活动套接有输送带21，芯片检测台1的顶部固定安装有固定架9，固定架9的数量为两个，两个固定架9宽度值的大小大于输送带21宽度值的大小，两个固定架9的顶端固定连接有传动箱8，传动箱8的内部固定安装有支撑底座10，支撑底座10的内部活动连接有旋转杆14，旋转杆14的外侧面固定套接有旋转盘15，旋转盘15的外侧面与支撑底座10的内壁相接触，旋转杆14的两端均贯穿支撑底座10并延伸至支撑底座10的外侧面，旋转盘15的外侧面固定连接有搭接板13，旋转杆14的外侧面活动套接有第一传动带11，第一传动带11的一端贯穿传动箱8并延伸至传动箱8的外侧面，第一传动带11的另一端与转杆23的外侧面活动连接，传动箱8的内部固定安装有连接板18，转盘17的内部固定连接有圆杆19，转盘17通过圆杆19活动连接至连接板18的内部，转盘17的外侧面固定套接有转杆16，转杆16的数量为两个，转杆16的外侧面与搭接板13的外侧面相接触，传动箱8的内部固定安装有电机盒20，圆杆19的一端延伸至电机盒20的内部，圆杆19的一端与电机盒20电机的输出端固定连接，固定杆28的外侧面活动套接有滑动环29，滑动环29的内部螺纹连接有调节螺杆，滑动环29的外侧面固定连接有承重板31，承重板31的内部固定连接有检测支杆30，检测支杆30的两端均贯穿承重板31并延伸至承重板31的外侧面，检测支杆30的底端固定套接有收缩套筒33，检测支杆30的底端延伸至收缩套筒33的内部，收缩套筒33的内部固定连接有套接支环36，套接支环36的内部活动连接有测试杆34，测试杆34的底端延伸至收缩套筒33的外侧面，测试杆34的底部固定连接有检测头35，测试杆34的两端均贯穿套接支环36并延伸至套接支环36的外侧面，测试杆34的顶端固定连接有延伸杆37，延伸杆37的外侧面活动套接有支撑弹簧32，支撑弹簧32的顶端与检测支杆30的底部固定连接，支撑弹簧32的底端与测试杆34的顶部固定连接，检测支杆30的底端开设有延伸孔39，延伸孔39的内壁开设有滑动槽38，延伸杆37的顶端延伸至延伸孔39的内部，延伸杆37的外侧面固定连接有滑动杆6，滑动杆6的数量为两个，两个滑动杆6的一端均延伸至滑动槽38的内部，两个滑动杆6的外侧面与滑动槽38的内壁相接触，输送带21的顶部固定连接有固定连杆47，固定连杆47的底端固定连接有旋转环，旋转环的内部活动连接有连接圆杆44，连接圆杆44的外侧面固定连接有衔接板43，输送带21的底端固定连接有限制杆40，限制杆40的内部固定连接有弹簧套筒42，弹簧套筒42的内部活动连接有弹簧支撑杆46，弹簧支撑杆46的一端贯穿弹簧套筒42并延伸至弹簧套筒42的外侧面，弹簧支撑杆46的外侧面活动套接有限制弹簧41，弹簧支撑杆46的外侧面固定套接有限位板45，限制弹簧41的右端与弹簧套筒42的内壁相接触，限制弹簧41的另一端与限位板45的外侧面固定连接，芯片检测台1的内部开设有液压槽5，液压槽5的内部固定连接有液压装置4，芯片检测台1的内部固定连接有定时装置2，定时装置2与液压装置4固定连接，液压装置4的内部活动连接有液压杆3，液压杆3的顶端固定连接有推板48，芯片检测台1的顶部设有芯片放置箱7，液压杆3的顶端贯穿液压槽5并延伸至芯片放置箱7的内部，芯片检测台1的顶端固定安装有转动支架，转筒支架的内部通过圆柱杆27活动连接有转动筒25，圆柱杆27的外侧面活动套接有第二传动带24，圆柱杆27通过第二传动带24与转杆23的外侧面活动连接，转动筒25的外侧面固定连接有套杆26，套杆26的外侧面与芯片的底部相接触，转动支架的右侧面内设有倾斜滑台。

工作原理，芯片存储至芯片放置箱7的内部，芯片经液压杆3顶端的推板48，使得芯片放置箱7内部的芯片推至两个衔接板43之间，配合传动箱8内部的电动机带动转盘17的旋转，转盘17的外侧面固定连接有转杆16与旋转盘15外侧面的搭接板13相接触，从而使得搭接板13进行定时转动，又配合第一传动带11带动输送带21的旋转，从而实现输送带21的定时转动，避免输送带21的持续转动，对芯片的检测不够全面，通过旋转调节螺杆使得滑动环29得以调节，检测支杆30的底端固定套接有收缩套筒33，收缩套筒33的内部设有测试杆34，测试杆34的底端固定连接有检测头35，测试杆34的顶部固定连接有支撑弹簧32使得测试杆34得以进行缓冲按压，避免检测头35的重击，芯片检测台1的顶部设有转动筒25以及转动筒25外侧面的套杆26将两个衔接板43之间的芯片取下。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。