一种触摸屏成品高低温耐受性试验分析方法

本发明涉及触摸屏成品高低温耐受性试验技术领域，具体公开一种触摸屏成品高低温耐受性试验分析方法，该方法包括：试验数据设置、高温测试数据获取、高温耐受性分析、低温耐受性分析和耐受性异常反馈；本发明通过设置试验数据，并对测试数据进行采集，从而分析当前生产批次对应高温层面和低温层面的耐受性评估指数，进而得到手机触摸屏成品的综合耐受性评估指数，通过在不同温度下进行测试，可以更全面地评估触摸屏成品在不同环境下的性能表现，同时可以增加数据的可靠性，减少误差和异常数据对分析结果的影响，可以方便地对不同温度下的测试结果进行对比分析，更直观地了解触摸屏成品在不同温度下的性能差异。

《一种触摸屏成品高低温耐受性试验分析方法》是一发明专利，专利号为 2023116062416，当前法律状态为已下证，由江苏纳帝电子科技有限公司提出申请，发明人为潘华平;张军昌;潘明;黄银山;吴累，申请日期为2023-11-29，公开（公告）日期为2024-02-20，国际专利分类号（IPC）为 G06F 18/20 (2023.01)。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明涉及触摸屏成品高低温耐受性试验技术领域，具体公开一种触摸屏成品高低温耐受性试验分析方法，该方法包括：试验数据设置、高温测试数据获取、高温耐受性分析、低温耐受性分析和耐受性异常反馈；本发明通过设置试验数据，并对测试数据进行采集，从而分析当前生产批次对应高温层面和低温层面的耐受性评估指数，进而得到手机触摸屏成品的综合耐受性评估指数，通过在不同温度下进行测试，可以更全面地评估触摸屏成品在不同环境下的性能表现，同时可以增加数据的可靠性，减少误差和异常数据对分析结果的影响，可以方便地对不同温度下的测试结果进行对比分析，更直观地了解触摸屏成品在不同温度下的性能差异。

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