基于DE算法和非均匀B样条曲线的光谱基线校正方法

本发明提供一种基于DE算法和非均匀B样条曲线的光谱基线校正方法，针对ICP‑AES检测系统中存在的基线漂移现象，以光谱基线校正过程中极小值序列的标准偏差作为评价指标，以非均匀B样条曲线作为基线模型，以曲线的控制点序列C和内接点序列T作为评价函数特征参数，建立光谱基线校正评价函数，利用差分进化算法求解评价函数的最优解，拟合出NURBS曲线作为光谱基线，从而对光谱曲线校正。解决现有常见基线校正方法局限性大且运算量高的问题。利用非均匀B样条拟合光谱基线，非均匀B样条的控制点序列C与内节点序列T作为评价函数特征参数和差分进化的初始条件之二，自适应选择一组最优的参数C与T，避免了经验选择参数C与T。

《基于DE算法和非均匀B样条曲线的光谱基线校正方法》是一发明专利，专利号为 2022108261841，当前法律状态为已下证，由北京工商大学提出申请，发明人为廉小亲;王宇乔;陈彦铭;刘钰;龚永罡;霍亮生，申请日期为2022-07-14，公开（公告）日期为2025-04-11，国际专利分类号（IPC）为 G01N 21/71 (2006.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：高校代售，需公示需二次变更，售前请先确认未报项目代售。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明提供一种基于DE算法和非均匀B样条曲线的光谱基线校正方法，针对ICP‑AES检测系统中存在的基线漂移现象，以光谱基线校正过程中极小值序列的标准偏差作为评价指标，以非均匀B样条曲线作为基线模型，以曲线的控制点序列C和内接点序列T作为评价函数特征参数，建立光谱基线校正评价函数，利用差分进化算法求解评价函数的最优解，拟合出NURBS曲线作为光谱基线，从而对光谱曲线校正。解决现有常见基线校正方法局限性大且运算量高的问题。利用非均匀B样条拟合光谱基线，非均匀B样条的控制点序列C与内节点序列T作为评价函数特征参数和差分进化的初始条件之二，自适应选择一组最优的参数C与T，避免了经验选择参数C与T。

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