一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置

本发明提供了一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置，所述装置包括：关键信号存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号的变化值发生变化时，记录当前时间戳信息；电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据；电磁辐射分析单元，用于分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据。通过上述方案，在芯片设计阶段，就可以模拟芯片的安全仿真测试，且能够自动完成电磁辐射攻击分析。

《一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置》是一发明专利，专利号为 2020111837091，当前法律状态为已下证，由深圳安捷丽新技术有限公司提出申请，发明人为廖裕民;陈娇丽;刘承;骆飞;刘学，申请日期为2020-10-29，公开（公告）日期为2024-02-27，国际专利分类号（IPC）为 H04L9/00(2022.01)I，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：芯片电路设计SEMA电磁侧信道仿真平台固态硬盘SSD主控芯片安全仿真电磁辐射攻击仿真验证密码加密芯片前端侧信道检测SSD数据存储计算机存储。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明提供了一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置，所述装置包括：关键信号存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号的变化值发生变化时，记录当前时间戳信息；电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据；电磁辐射分析单元，用于分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据。通过上述方案，在芯片设计阶段，就可以模拟芯片的安全仿真测试，且能够自动完成电磁辐射攻击分析。

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