一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统

所属领域:光谱分析系统 · 已下证
一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统发明专利
专利号2025106404346
专利类型发明专利
专利状态已下证
专利领域光谱分析系统
专利价格****
公开(公告)号2025106404346
IPC分类G01N 21/64 (2006.01)
申请日2025-05-19
公开日2025-08-22
申请人西安理工大学
发明人杜斌;王瀚;杨柯楠;尹梦伟;王赛男;金豆豆;裴翌廷;周世生
专利权人西安理工大学
授权公告号CN120177443B
高企状态未报高企
缴费日期2027/6/22

专利摘要

本发明涉及一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统,包括会聚部、二向色镜、荧光会聚镜、入射狭缝、光谱仪,其中光谱仪包括第一凹面反射镜、闪耀光栅、第二凹面反射镜,所述会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜,所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜,通过会聚透镜会聚后的光束经过所述材料样品,样品经过光束激发后产生荧光,经过所述二向色镜反射后经过所述会聚透镜,会聚后光束经过所述入射狭缝入射至第一凹面反射镜反射后,经所述闪耀光栅进行光束分光,分光后经所述第二凹面反射镜,最后经探测部探测。本发明的光致发光光谱仪的材料检测光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试,且具有小型化、轻量化的优点。


专利解读

《一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统》是一发明专利,专利号为 2025106404346,当前法律状态为已下证,由西安理工大学提出申请,发明人为杜斌;王瀚;杨柯楠;尹梦伟;王赛男;金豆豆;裴翌廷;周世生,申请日期为2025-05-19,公开(公告)日期为2025-08-22,国际专利分类号(IPC)为 G01N 21/64 (2006.01),高新资质:未报高企,所属技术领域包括:光谱分析系统。该专利已下发证书,权利稳定,适合直接办理转让过户,是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更(过户)的一站式专利转让服务,专业顾问全程协助,确保交易合规、安全、高效。专利摘要:本发明涉及一种基于光致发光光谱仪的材料检测光学系统,包括会聚部、二向色镜、荧光会聚镜、入射狭缝、光谱仪,其中光谱仪包括第一凹面反射镜、闪耀光栅、第二凹面反射镜,所述会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜,所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜,通过会聚透镜会聚后的光束经过所述材料样品,样品经过光束激发后产生荧光,经过所述二向色镜反射后经过所述会聚透镜,会聚后光束经过所述入射狭缝入射至第一凹面反射镜反射后,经所述闪耀光栅进行光束分光,分光后经所述第二凹面反射镜,最后经探测部探测。本发明的光致发光光谱仪的材料检测光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试,且具有小型化、轻量化的优点。


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