一种分光光度计光学系统

本发明关于一种分光光度计光学系统，包括第一会聚部、入射部、第一凹面反射镜、分光反射光栅、第二凹面反射镜、出射狭缝、第二会聚透部、检测池、会聚透镜以及探测部，所述第一会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜，所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜，所述第二会聚部包括第一透镜和第二透镜，通过会聚透镜会聚后的光束经过所述检测池，经过检测池后通过所述会聚透镜，最后经探测部探测。本发明的分光光度计光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试，且具有小型化、轻量化的优点。

《一种分光光度计光学系统》是一发明专利，专利号为 2025101809933，当前法律状态为已下证，由西安理工大学提出申请，发明人为杜斌;尹梦伟;杨柯楠;王赛男;裴翌廷;金豆豆;王瀚;周世生，申请日期为2025-02-19，公开（公告）日期为2025-12-16，国际专利分类号（IPC）为 G01N 21/25 (2006.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：光谱分析系统。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明关于一种分光光度计光学系统，包括第一会聚部、入射部、第一凹面反射镜、分光反射光栅、第二凹面反射镜、出射狭缝、第二会聚透部、检测池、会聚透镜以及探测部，所述第一会聚部包括沿光路依次排列的第一透镜和第二透镜，所述第一凹面反射镜和所述第二凹面反射镜为离轴凹面反射镜，所述第二会聚部包括第一透镜和第二透镜，通过会聚透镜会聚后的光束经过所述检测池，经过检测池后通过所述会聚透镜，最后经探测部探测。本发明的分光光度计光学系统能够实现宽光谱范围的材料光学分析或测试，且具有小型化、轻量化的优点。

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