基于缺陷模式挖掘的制造过程调优方法

本发明公开了基于缺陷模式挖掘的制造过程调优方法，涉及数据处理相关领域，该方法包括：获得缺陷指标检出数据；根据检出缺陷指标类型数据进行一级去偶然性分析，获得高频检出缺陷指标类型；对缺陷指标偏差向量数据进行二级去偶然性分析，获得高频缺陷指标偏差向量；获得第一节点生产控制属性到第N节点生产控制属性；进行关联性分析，获得关联控制属性；对高频缺陷指标偏差向量进行控制变量匹配，获得工艺标定属性；发送至质量管控终端。解决了现有生产工艺优化存在的缺乏对深层次质量诱因的挖掘与分析，从而无法从根本上优化生产工艺的技术问题，达到了通过挖掘产品质量问题的根源，实现生产过程的精准控制与优化的技术效果。

《基于缺陷模式挖掘的制造过程调优方法》是一发明专利，专利号为 2025115052346，当前法律状态为已下证，由南通透灵信息科技有限公司提出申请，发明人为张赪琛，申请日期为2025-10-21，公开（公告）日期为2025-11-18，国际专利分类号（IPC）为 G06Q10/0639(2023.01)I;G06Q10/04(2023.01)I;G06Q50/04(2012.01)I;G06F18/2433(2023.01)I;G06F18/22(2023.01)I;G06F18/2321(2023.01)I;G06F18/23213(2023.01)I;G06N5/025(2023.01)I，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：智能工业制造质量大数据分析工业智能制造质量管控产品多工序质量根因溯源造缺陷模式挖掘大数据调优工业历史生产数据回溯产品质量大数据根因分析。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了基于缺陷模式挖掘的制造过程调优方法，涉及数据处理相关领域，该方法包括：获得缺陷指标检出数据；根据检出缺陷指标类型数据进行一级去偶然性分析，获得高频检出缺陷指标类型；对缺陷指标偏差向量数据进行二级去偶然性分析，获得高频缺陷指标偏差向量；获得第一节点生产控制属性到第N节点生产控制属性；进行关联性分析，获得关联控制属性；对高频缺陷指标偏差向量进行控制变量匹配，获得工艺标定属性；发送至质量管控终端。解决了现有生产工艺优化存在的缺乏对深层次质量诱因的挖掘与分析，从而无法从根本上优化生产工艺的技术问题，达到了通过挖掘产品质量问题的根源，实现生产过程的精准控制与优化的技术效果。

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