一种薄膜材料力学性能监测方法及系统

本发明涉及薄膜材料力学性能技术领域，具体为一种薄膜材料力学性能监测方法及系统，本发明通过建立薄膜缺陷分析模型，识别划分为多个区域的复合薄膜的图像数据；依据识别的缺陷特征计算各个缺陷特征的第一监测影响值，并对第一监测影响值监测合格的区域进行力学性能监测，监测不合格的划分为第一监测干扰区域；监测并获取合格区域的第一性能参数和第二性能参数，并将监测不合格的区域划分为第二监测干扰区域和第三监测干扰区域；通过该方法能够更全面的分析复合薄膜中出现应力分布不均和缺陷等问题的区域，提供更准确的复合薄膜环境数据，以便于提升纳米压痕法力学性能监测的准确率。

《一种薄膜材料力学性能监测方法及系统》是一发明专利，专利号为 2024113310584，当前法律状态为已下证，由因而克智能科技（浙江）有限公司提出申请，发明人为郑辉，申请日期为2024-09-24，公开（公告）日期为2025-01-24，国际专利分类号（IPC）为 G01N 3/40 (2006.01)，所属技术领域包括：转浙江。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明涉及薄膜材料力学性能技术领域，具体为一种薄膜材料力学性能监测方法及系统，本发明通过建立薄膜缺陷分析模型，识别划分为多个区域的复合薄膜的图像数据；依据识别的缺陷特征计算各个缺陷特征的第一监测影响值，并对第一监测影响值监测合格的区域进行力学性能监测，监测不合格的划分为第一监测干扰区域；监测并获取合格区域的第一性能参数和第二性能参数，并将监测不合格的区域划分为第二监测干扰区域和第三监测干扰区域；通过该方法能够更全面的分析复合薄膜中出现应力分布不均和缺陷等问题的区域，提供更准确的复合薄膜环境数据，以便于提升纳米压痕法力学性能监测的准确率。

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