一种基于SIFT特征匹配和改进SSD算法的印刷缺陷检测方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）
发明专利一种基于SIFT特征匹配和改进的SSD算法的软包装卷料印刷缺陷检测方法，将传统视觉缺陷检测方法和深度学习检测方法相结合，即弥补了传统视觉缺陷检测方法对图像角度和光照的不足，也将新技术引入到软包装检测领域，在保障检测时间的前提下，提高了检测的准确性。
《一种基于SIFT特征匹配和改进SSD算法的印刷缺陷检测方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）》是一发明专利，专利号为 2019113229187，当前法律状态为已下证，由江苏理工学院提出申请，发明人为徐镪;范洪辉;朱洪锦;汪以歆;余光辉，申请日期为2019-12-20，公开（公告）日期为2024-02-06，国际专利分类号（IPC）为 G06T 7/00 (2017.01)，高新资质：未报高企。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：一种基于SIFT特征匹配和改进的SSD算法的软包装卷料印刷缺陷检测方法，将传统视觉缺陷检测方法和深度学习检测方法相结合，即弥补了传统视觉缺陷检测方法对图像角度和光照的不足，也将新技术引入到软包装检测领域，在保障检测时间的前提下，提高了检测的准确性。
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