X/γ射线探测器无源效率刻度的数值计算方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）

本发明公开了X/γ射线探测器无源效率刻度的数值计算方法，包括如下步骤：步骤S1，确定放射源信息，步骤S2，确定探测器信息，步骤S3，将晶体网格化；步骤S4，计算入射光子逃逸概率；步骤S5，计算入射光子电子对效应产生的逃逸概率和一次散射光子逃逸概率；步骤S6，计算一次散射光子电子对效应产生的逃逸概率和二次散射光子逃逸概率；步骤S7，计算三次散射光子逃逸概率；步骤S8，计算全能峰效率。本发明提出的全能峰效率计算方法，可以对任意凸面体形状探测晶体的全能峰效率进行计算，没有探测晶体形状、尺寸、材质、密度等因素变化造成的计算局限性，为后期放射性核素研究与工程实践提供了一种可靠的新技术。

《X/γ射线探测器无源效率刻度的数值计算方法（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）》是一发明专利，专利号为 2022116743935，当前法律状态为已下证，由成都理工大学提出申请，发明人为张庆贤;张建;汪建红;葛良全;程志强;谷懿;曹辉，申请日期为2022-12-26，公开（公告）日期为2024-04-05，国际专利分类号（IPC）为 G01T 1/00 (2006.01)，高新资质：未报高企。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了X/γ射线探测器无源效率刻度的数值计算方法，包括如下步骤：步骤S1，确定放射源信息，步骤S2，确定探测器信息，步骤S3，将晶体网格化；步骤S4，计算入射光子逃逸概率；步骤S5，计算入射光子电子对效应产生的逃逸概率和一次散射光子逃逸概率；步骤S6，计算一次散射光子电子对效应产生的逃逸概率和二次散射光子逃逸概率；步骤S7，计算三次散射光子逃逸概率；步骤S8，计算全能峰效率。本发明提出的全能峰效率计算方法，可以对任意凸面体形状探测晶体的全能峰效率进行计算，没有探测晶体形状、尺寸、材质、密度等因素变化造成的计算局限性，为后期放射性核素研究与工程实践提供了一种可靠的新技术。

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