RHBD-12T抗辐照SRAM存储单元、芯片、模块(高校公示15天)(不包年费滞纳金)(需要二变)
本发明涉及RHBD‑12T抗辐照SRAM存储单元、芯片、模块。基于源隔离与极性加固技术的RHBD‑12T抗辐照SRAM存储单元包括NMOS晶体管N1~N8和PMOS晶体管P1~P4,晶体管P1~P4和N3、N4作为上拉管,晶体管N1、N2、N5、N6作为下拉管,晶体管N1和P3构成一个反相器,晶体管N2和P4构成另一个反相器,两个反相器交叉耦合;两个主存储节点Q与QB通过N7与N8分别与位线BL和位线BLB相连,晶体管N7、N8由字线WL控制。本发明通过只设置两个敏感存储节点,大大减小了电路的敏感节点数量与敏感区域的面积,从而提高了电路的抗辐射性能。
《RHBD-12T抗辐照SRAM存储单元、芯片、模块(高校公示15天)(不包年费滞纳金)(需要二变)》是一发明专利,专利号为 2022108183607,当前法律状态为已下证,由安徽大学提出申请,发明人为赵强;程伟;彭春雨;卢文娟;吴秀龙;蔺智挺;陈军宁,申请日期为2022-07-12,公开(公告)日期为2025-08-19,国际专利分类号(IPC)为 G11C 11/412 (2006.01),高新资质:未报高企。该专利已下发证书,权利稳定,适合直接办理转让过户,是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更(过户)的一站式专利转让服务,专业顾问全程协助,确保交易合规、安全、高效。专利摘要:本发明涉及RHBD‑12T抗辐照SRAM存储单元、芯片、模块。基于源隔离与极性加固技术的RHBD‑12T抗辐照SRAM存储单元包括NMOS晶体管N1~N8和PMOS晶体管P1~P4,晶体管P1~P4和N3、N4作为上拉管,晶体管N1、N2、N5、N6作为下拉管,晶体管N1和P3构成一个反相器,晶体管N2和P4构成另一个反相器,两个反相器交叉耦合;两个主存储节点Q与QB通过N7与N8分别与位线BL和位线BLB相连,晶体管N7、N8由字线WL控制。本发明通过只设置两个敏感存储节点,大大减小了电路的敏感节点数量与敏感区域的面积,从而提高了电路的抗辐射性能。
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