余差脉冲展宽插值量化型列级ADC、CMOS图像传感器（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）

本申请涉及一种余差脉冲展宽插值量化型列级ADC、CMOS图像传感器，其中，该余差脉冲展宽插值量化型列级ADC包括：比较器、余差提取电路、脉冲展宽电路、粗量化计数器、细量化计数器和误差校正电路；比较器用于比较斜坡信号和像素信号，比较器的输出端通过第一与门连接余差提取电路的输入端以及粗量化计数器的输入端；余差提取电路用于提取第一与门的输出下降沿与自身之后的首个时钟上升沿之间的时间差，余差提取电路的输出端连接脉冲展宽电路的输入端以及误差校正电路的输入端；脉冲展宽电路用于对余差提取电路的输出进行展宽，脉冲展宽电路的输出端连接细量化计数器的输入端。解决了目前SSADC的量化速度较慢、时间精度不高的问题。

《余差脉冲展宽插值量化型列级ADC、CMOS图像传感器（高校公示15天）（不包年费滞纳金）（需要二变）》是一发明专利，专利号为 202411578699X，当前法律状态为已下证，由安徽大学提出申请，发明人为赵强;王子鸣;张升钺;李鑫;李志刚;彭春雨;蔺智挺;吴秀龙，申请日期为2024-11-07，公开（公告）日期为2025-09-30，国际专利分类号（IPC）为 H04N 25/78 (2023.01)，高新资质：未报高企。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本申请涉及一种余差脉冲展宽插值量化型列级ADC、CMOS图像传感器，其中，该余差脉冲展宽插值量化型列级ADC包括：比较器、余差提取电路、脉冲展宽电路、粗量化计数器、细量化计数器和误差校正电路；比较器用于比较斜坡信号和像素信号，比较器的输出端通过第一与门连接余差提取电路的输入端以及粗量化计数器的输入端；余差提取电路用于提取第一与门的输出下降沿与自身之后的首个时钟上升沿之间的时间差，余差提取电路的输出端连接脉冲展宽电路的输入端以及误差校正电路的输入端；脉冲展宽电路用于对余差提取电路的输出进行展宽，脉冲展宽电路的输出端连接细量化计数器的输入端。解决了目前SSADC的量化速度较慢、时间精度不高的问题。

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