基于光斑时序的碟式聚光器方位轴倾斜测量与校正方法

一种基于光斑时序的碟式聚光器方位轴倾斜测量与校正方法，包括以下步骤：建立含方位轴倾斜的碟式聚光器跟踪模型：计算任意时刻碟式聚光器的跟踪误差；采用光线跟踪方法确定上述跟踪误差下焦平面聚焦能流分布的质心坐标；重复上述步骤，计算不同方位轴倾斜误差下全年每天跟踪过程的聚焦能流分布的质心坐标，形成数据库并采用神经网络训练获得预测模型；选定某一天，测量碟式聚光器跟踪工作过程中焦平面聚焦能流分布的质心坐标时序数据，并输入到预测模型中预测出实际方位轴的倾斜误差值，并以此建立碟式聚光器的视日跟踪校正模型，提升碟式聚光器的跟踪精度；本发明能在服役状态进行快速测量与跟踪校正，具有高效、灵活且低成本的优点。

《基于光斑时序的碟式聚光器方位轴倾斜测量与校正方法》是一发明专利，专利号为 2023102749358，当前法律状态为已下证，由湖南科技大学提出申请，发明人为颜健;刘永祥;习毅;周炜，申请日期为2023-03-21，公开（公告）日期为2026-07-03，国际专利分类号（IPC）为 G01C 9/00 (2006.01)，所属技术领域包括：太阳能工程、光热设备检测、聚光器姿态校正、光斑时序采集、方位轴检测、倾斜误差校正、碟式聚光装备、光学测量、聚光精度校准、光能汇聚优化、光热设备运维、姿态感知、新能源装备检测、光学误差修正、集热效能提升。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：一种基于光斑时序的碟式聚光器方位轴倾斜测量与校正方法，包括以下步骤：建立含方位轴倾斜的碟式聚光器跟踪模型：计算任意时刻碟式聚光器的跟踪误差；采用光线跟踪方法确定上述跟踪误差下焦平面聚焦能流分布的质心坐标；重复上述步骤，计算不同方位轴倾斜误差下全年每天跟踪过程的聚焦能流分布的质心坐标，形成数据库并采用神经网络训练获得预测模型；选定某一天，测量碟式聚光器跟踪工作过程中焦平面聚焦能流分布的质心坐标时序数据，并输入到预测模型中预测出实际方位轴的倾斜误差值，并以此建立碟式聚光器的视日跟踪校正模型，提升碟式聚光器的跟踪精度；本发明能在服役状态进行快速测量与跟踪校正，具有高效、灵活且低成本的优点。

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