一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法

本发明公开了一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法，本发明克服了人工检测面板Mura缺陷的弊端，使最终Mura缺陷量化评估不受人为主观认定因素的影响，显著提升显示面板质量检测的效率和准确性，尤其是相比之前评估方法，本发明方法可兼顾相机多角度拍摄的图像进行显示模板Mura缺陷评估，可同时对亮度和色度Mura缺陷的进行量化评估，并且采用图像掩膜处理方法避免面板边缘Mura缺陷的漏检测，本方法并非只针对最显著的Mura缺陷进行检测评估，而是从全局上根据所有能观测到的缺陷强度赋予不同的权重进行综合评价，从而提高了显示面板Mura缺陷评估的准确率和可信度。

《一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法》是一发明专利，专利号为 2023109661028，当前法律状态为已下证，由湖北经济学院提出申请，发明人为刘小畅;宋莺;邸忆;孙宝林，申请日期为2023-08-02，公开（公告）日期为2026-03-03，国际专利分类号（IPC）为 G06T 7/00 (2017.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：专利权维持未报项目代售。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种基于最小可觉差的显示面板Mura缺陷全局评估方法，本发明克服了人工检测面板Mura缺陷的弊端，使最终Mura缺陷量化评估不受人为主观认定因素的影响，显著提升显示面板质量检测的效率和准确性，尤其是相比之前评估方法，本发明方法可兼顾相机多角度拍摄的图像进行显示模板Mura缺陷评估，可同时对亮度和色度Mura缺陷的进行量化评估，并且采用图像掩膜处理方法避免面板边缘Mura缺陷的漏检测，本方法并非只针对最显著的Mura缺陷进行检测评估，而是从全局上根据所有能观测到的缺陷强度赋予不同的权重进行综合评价，从而提高了显示面板Mura缺陷评估的准确率和可信度。

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