一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法

本发明公开了一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法，包括同一直线上依次设置的光源、各种光路辅助器件、不透光薄板、散射介质辅助采集光路，所述不透光薄板中心设有透射型成像目标。方法包括：S1通过改变散射介质相对于中心位置的距离连续采集n次成像面的散斑；S2将采集到的散斑进行自相关表示；S3通过混合估计恢复算法对得到的自相关图案进行复原；S4利用混合估计恢复算法来对目标图像进行限制；S5获取散射介质的点扩展函数。上述技术方案在面对厚散射介质时，使用平移光学记忆效应替换传统光学记忆效应，克服了角度记忆效应的薄散射介质局限和自由衍射局限，能够突破传统记忆效应的限制，简化具体实验装置。

《一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法》是一发明专利，专利号为 2021103154406，当前法律状态为已下证，由杭州电子科技大学提出申请，发明人为崔光茫;曹超伟;赵巨峰;何镔韬，申请日期为2021-03-24，公开（公告）日期为2023-11-10，国际专利分类号（IPC）为 G01N 21/47 (2006.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：（散射介质、点扩展函数、非侵入式测量、散斑成像、自相关分析、混合估计恢复、光学记忆效应、厚散射介质、光学成像、生物医学光学）。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法，包括同一直线上依次设置的光源、各种光路辅助器件、不透光薄板、散射介质辅助采集光路，所述不透光薄板中心设有透射型成像目标。方法包括：S1通过改变散射介质相对于中心位置的距离连续采集n次成像面的散斑；S2将采集到的散斑进行自相关表示；S3通过混合估计恢复算法对得到的自相关图案进行复原；S4利用混合估计恢复算法来对目标图像进行限制；S5获取散射介质的点扩展函数。上述技术方案在面对厚散射介质时，使用平移光学记忆效应替换传统光学记忆效应，克服了角度记忆效应的薄散射介质局限和自由衍射局限，能够突破传统记忆效应的限制，简化具体实验装置。

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