基于固态纳米孔检测技术的Cd-EDTA检测方法

本发明公开了一种基于固态纳米孔检测技术的Cd‑EDTA检测方法，包括：获取纳米孔传感器，其中，纳米孔传感器中的纳米孔采用电子束光刻技术制备；配置电解质溶液；制备Cd‑EDTA样品并配置不同浓度的标准Cd‑EDTA溶液；配置电化学工作站之后，施加交流信号，并在预设频率范围内获取纳米孔传感器的响应信号，获得电流阻塞信号；基于Cd‑EDTA样品与不同浓度的标准Cd‑EDTA溶液对应的电流阻塞信号实现Cu‑EDTA的检测。本发明提高了对Cd‑EDTA复合物的检测灵敏度，能够在低浓度下实现精准检测。实现了实时、无标记检测，适用于矿区复杂环境中的污染物监测。

《基于固态纳米孔检测技术的Cd-EDTA检测方法》是一发明专利，专利号为 2025100857319，当前法律状态为已下证，由广东工业大学提出申请，发明人为冯思路;陈涛，申请日期为2025-01-20，公开（公告）日期为2025-09-26，国际专利分类号（IPC）为 G01N 27/48 (2006.01)，所属技术领域包括：化工、生物、固态纳米孔、重金属检测、Cd-EDTA传感。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种基于固态纳米孔检测技术的Cd‑EDTA检测方法，包括：获取纳米孔传感器，其中，纳米孔传感器中的纳米孔采用电子束光刻技术制备；配置电解质溶液；制备Cd‑EDTA样品并配置不同浓度的标准Cd‑EDTA溶液；配置电化学工作站之后，施加交流信号，并在预设频率范围内获取纳米孔传感器的响应信号，获得电流阻塞信号；基于Cd‑EDTA样品与不同浓度的标准Cd‑EDTA溶液对应的电流阻塞信号实现Cu‑EDTA的检测。本发明提高了对Cd‑EDTA复合物的检测灵敏度，能够在低浓度下实现精准检测。实现了实时、无标记检测，适用于矿区复杂环境中的污染物监测。

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