一种纳米涂层膜厚检测装置(纳米涂层膜厚检测、纳米涂层、厚度测量、精密测量)
本实用新型涉及纳米涂层膜厚检测技术领域,且公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,包括工作台,所述工作台的顶部设置有固定框,所述固定框的左侧设置有第一电机,所述第一电机的输出轴设置有延伸至固定框内部且与其内壁右侧转动连接的第一螺杆,所述第一螺杆的外侧设置有移动座,所述移动座的顶部设置有延伸至工作台上方的支撑架,所述支撑架的顶部设置有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的输出端延伸至支撑架的底部并设置有膜厚检测仪器本体,所述工作台的顶部设置有位于固定框前侧的活动座。该纳米涂层膜厚检测装置,有效帮助使用者对涂层膜零件进行限位固定,有效提高膜厚检测装置的检测准度,有效提高膜厚检测装置的实用性。
《一种纳米涂层膜厚检测装置(纳米涂层膜厚检测、纳米涂层、厚度测量、精密测量)》是一实用新型,专利号为 2023219318824,当前法律状态为已下证,由上海仁晶测量技术有限公司提出申请,发明人为李万新,申请日期为2023-07-21,公开(公告)日期为2023-12-29,国际专利分类号(IPC)为 G01B 21/08 (2006.01),高新资质:未报高企,所属技术领域包括:纳米涂层膜厚检测、纳米涂层、厚度测量、精密测量。该专利已下发证书,权利稳定,适合直接办理转让过户,是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更(过户)的一站式专利转让服务,专业顾问全程协助,确保交易合规、安全、高效。专利摘要:本实用新型涉及纳米涂层膜厚检测技术领域,且公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,包括工作台,所述工作台的顶部设置有固定框,所述固定框的左侧设置有第一电机,所述第一电机的输出轴设置有延伸至固定框内部且与其内壁右侧转动连接的第一螺杆,所述第一螺杆的外侧设置有移动座,所述移动座的顶部设置有延伸至工作台上方的支撑架,所述支撑架的顶部设置有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的输出端延伸至支撑架的底部并设置有膜厚检测仪器本体,所述工作台的顶部设置有位于固定框前侧的活动座。该纳米涂层膜厚检测装置,有效帮助使用者对涂层膜零件进行限位固定,有效提高膜厚检测装置的检测准度,有效提高膜厚检测装置的实用性。
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