一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置

本发明提供了一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置，所述装置包括：关键信号存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行多次仿真测试；关键信号监控单元，用于在每一次仿真测试时，当所述关键信号发生变化时，记录变化时间戳信息；差分电磁辐射分析单元，用于获取每一关键信号对应的第一电磁辐射信息和第二电磁辐射信息，并计算所述第一电磁辐射信息和第二电磁辐射信息的电磁辐射差值，分析各关键信号的电磁辐射差值是否存在关联。通过上述方案，在芯片设计阶段，可以模拟待测电路的安全仿真测试，且能够自动完成差分电磁辐射攻击分析。

《一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置》是一发明专利，专利号为 2020111798612，当前法律状态为已下证，由深圳安捷丽新技术有限公司提出申请，发明人为廖裕民;刘承;林纬园;邹瑜文;王俊，申请日期为2020-10-29，公开（公告）日期为2024-01-19，国际专利分类号（IPC）为 H04L9/00(2022.01)I，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：芯片电路设计DEMA差分电磁侧信道仿真平台SSD主控芯片安全仿真电磁辐射攻击仿真验证密码芯片前端安全预验证SSD数据存储计算机存储。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明提供了一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置，所述装置包括：关键信号存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行多次仿真测试；关键信号监控单元，用于在每一次仿真测试时，当所述关键信号发生变化时，记录变化时间戳信息；差分电磁辐射分析单元，用于获取每一关键信号对应的第一电磁辐射信息和第二电磁辐射信息，并计算所述第一电磁辐射信息和第二电磁辐射信息的电磁辐射差值，分析各关键信号的电磁辐射差值是否存在关联。通过上述方案，在芯片设计阶段，可以模拟待测电路的安全仿真测试，且能够自动完成差分电磁辐射攻击分析。

海量优质专利即买即用，四大核心优势助您弯道超车：
🏆 拿资质，享红利：高企认定、专精特新必备！轻松获取政府补贴、税收减免，招投标直接加分！
💎 增信誉，融资金：支持实缴注册资金，彰显企业硬实力；支持专利质押贷款，盘活现金流，扩张不缺钱！
🔥 强背书，防抄袭：印上“专利产品”，客户更信赖！构建技术壁垒，把竞争对手挡在门外，稳占市场份额！
🚀 省时间，快变现：告别漫长研发与高风险！优质专利即买即用，让技术立刻变成真金白银的利润！