一种等截面薄壁轴承测量装置及测量方法

本发明公开了一种等截面薄壁轴承测量装置，包括基座，通过垂直于基座的转轴转动连接于基座上方的平台，电机，及测量装置，平台与基座平行设置，电机驱动转轴转动可带动平台旋转，待测轴承放置于所述平台上时，其与平台同步转动；测量装置为设于待测轴承外围的至少一外径测量装置，外径测量装置指向待测轴承的外壁，并沿径向设置，或设于待测轴承内圈的至少一内径测量装置，内径测量装置指向待测轴承的内壁，并沿径向设置。本发明还公开了两种等截面薄壁轴承的测量方法。本发明结构简单，测量方法简化，有效地解决了薄壁轴承生产加工过程中的测量时间长问题，最大程度地减少装配工人的装配难度，以及使用过程中最大程度体现其旋转精度。

《一种等截面薄壁轴承测量装置及测量方法》是一发明专利，专利号为 2018102033281，当前法律状态为已下证，由浙江迪邦达轴承有限公司提出申请，发明人为吴永波;杨爱丰;董利飞，申请日期为2018-03-13，公开（公告）日期为2024-06-21，国际专利分类号（IPC）为 G01B21/10(2006.01)I;G01B21/14(2006.01)I，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：轴承制造精密测量工业检测设备薄壁轴承检测轴承尺寸测量内外径检测轴承圆度测量精密轴承校验。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种等截面薄壁轴承测量装置，包括基座，通过垂直于基座的转轴转动连接于基座上方的平台，电机，及测量装置，平台与基座平行设置，电机驱动转轴转动可带动平台旋转，待测轴承放置于所述平台上时，其与平台同步转动；测量装置为设于待测轴承外围的至少一外径测量装置，外径测量装置指向待测轴承的外壁，并沿径向设置，或设于待测轴承内圈的至少一内径测量装置，内径测量装置指向待测轴承的内壁，并沿径向设置。本发明还公开了两种等截面薄壁轴承的测量方法。本发明结构简单，测量方法简化，有效地解决了薄壁轴承生产加工过程中的测量时间长问题，最大程度地减少装配工人的装配难度，以及使用过程中最大程度体现其旋转精度。

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