一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法 (人工智能、图像处理、数字摄影)

本发明公开了一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法，针对传统的谱聚类超像素分割方法计算复杂度过高，不适合大尺寸图像处理的问题，利用Nystrom近似技术改进谱聚类，提高超像素分割的效率和质量。本发明首先在待分割图像上随机抽样，选取少量像素点样本；然后计算样本相似性矩阵，并对矩阵归一化；接着利用Nystrom近似技术，计算Laplacian矩阵的近似正交特征向量；再使用k‑means算法对特征空间中的代表点聚类，生成多个超像素；最后根据目标物体的轮廓，通过超像素分离前景目标与背景。本发明为Nystrom谱聚类设计了新的特征求解方法，使所得的近似特征向量满足正交条件，用于产生贴合物体形状的超像素。本发明可以降低超像素分割的计算复杂度，实现更高效、更精确的图像抠图。

《一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法 (人工智能、图像处理、数字摄影)》是一发明专利，专利号为 202110434415X，当前法律状态为已售，由江苏大学提出申请，发明人为贾洪杰;毛启容;王良君;宋和平;马忠臣，申请日期为2021-04-22，公开（公告）日期为2025-05-09，国际专利分类号（IPC）为 G06T 7/11 (2017.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：电影制作、广告制作、人工智能、图像处理、数字摄影、视觉效果、超像素抠图、照片编辑、影视特效、虚拟现实、游戏动画、在线会议。该专利权属清晰，可通过正规流程办理转让，适用于企业技术升级、资质申报与战略布局。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种基于Nystrom谱聚类的超像素抠图方法，针对传统的谱聚类超像素分割方法计算复杂度过高，不适合大尺寸图像处理的问题，利用Nystrom近似技术改进谱聚类，提高超像素分割的效率和质量。本发明首先在待分割图像上随机抽样，选取少量像素点样本；然后计算样本相似性矩阵，并对矩阵归一化；接着利用Nystrom近似技术，计算Laplacian矩阵的近似正交特征向量；再使用k‑means算法对特征空间中的代表点聚类，生成多个超像素；最后根据目标物体的轮廓，通过超像素分离前景目标与背景。本发明为Nystrom谱聚类设计了新的特征求解方法，使所得的近似特征向量满足正交条件，用于产生贴合物体形状的超像素。本发明可以降低超像素分割的计算复杂度，实现更高效、更精确的图像抠图。

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