一种基于原子力探针的显微镜头与样品台锁定系统（高校 扫描探针显微（SPM）、原子力显微镜AFM、精密微纳测控、纳米表征设备）

本发明公开了一种基于原子力探针的样品锁定系统，包括显微镜头、激光器、四象限探测器、探针悬臂、原子力探针、样品台、控制单元；本发明利用原子力探针，通过原子间相互作用力来锁定显微镜镜头与样品台的相对位置，系统简单、成本较低且容易搭建。本发明可以克服镜头与样品台相对位置变化造成的图像失真，提高超分辨显微系统的工作精度。

《一种基于原子力探针的显微镜头与样品台锁定系统（高校 扫描探针显微（SPM）、原子力显微镜AFM、精密微纳测控、纳米表征设备）》是一发明专利，专利号为 2017105399399，当前法律状态为已售，由中国计量大学提出申请，发明人为李旸晖;刘小煜;来邻，申请日期为2017-06-30，公开（公告）日期为2017-10-13，国际专利分类号（IPC）为 G01Q60/38(2010.01)I，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：原子力显微镜（AFM）；扫描探针显微镜；纳米表征设备；精密仪器锁定系统；半导体检测；材料微观表征。该专利权属清晰，可通过正规流程办理转让，适用于企业技术升级、资质申报与战略布局。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开了一种基于原子力探针的样品锁定系统，包括显微镜头、激光器、四象限探测器、探针悬臂、原子力探针、样品台、控制单元；本发明利用原子力探针，通过原子间相互作用力来锁定显微镜镜头与样品台的相对位置，系统简单、成本较低且容易搭建。本发明可以克服镜头与样品台相对位置变化造成的图像失真，提高超分辨显微系统的工作精度。

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