芯粒故障定位方法及系统

本发明提供芯粒故障定位方法及系统，方法包括：基于芯粒历史运行数据构建故障检测模型，并进行模型预训练；当芯片故障时，获取所有芯粒运行数据；定义一个队列，任意选取一个芯粒，将该芯粒放入队列中；从队列中取出一个芯粒，获取其数据，标记其为已访问，基于预先训练的故障检测模型进行判断；若故障则登记；访问队列中取得芯粒的邻接芯粒，并将其放入队列中；判断当前队列是否为空；获取所标记的故障芯粒。本发明解决了故障定位精度较低、定位效率低、故障检测成本高以及适用场景较少的技术问题。

《芯粒故障定位方法及系统》是一发明专利，专利号为 2024105768590，当前法律状态为已下证，由安庆师范大学提出申请，发明人为詹文法;周杨心梓;张悦;郑江云;杨爱民;蔡雪原;张珺瑚;张庆平;潘盼;章礼华;吴兆旺，申请日期为2024-05-10，公开（公告）日期为2025-04-29，国际专利分类号（IPC）为 G01R 31/28 (2006.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：光电半导体检测技术。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明提供芯粒故障定位方法及系统，方法包括：基于芯粒历史运行数据构建故障检测模型，并进行模型预训练；当芯片故障时，获取所有芯粒运行数据；定义一个队列，任意选取一个芯粒，将该芯粒放入队列中；从队列中取出一个芯粒，获取其数据，标记其为已访问，基于预先训练的故障检测模型进行判断；若故障则登记；访问队列中取得芯粒的邻接芯粒，并将其放入队列中；判断当前队列是否为空；获取所标记的故障芯粒。本发明解决了故障定位精度较低、定位效率低、故障检测成本高以及适用场景较少的技术问题。

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