一种片上实验室光电检测装置及方法（24年授权）（5件专利为技术壁垒）

本发明公开的片上实验室光电检测装置，包括设置在片上实验室反应区入口的第五光栅孔和反应区出口的第六光栅孔，设置在片上实验室检测装置的光电传感器，通过所述光电传感器与所述光栅孔相互配合，用于当所述片上实验室插入所述片上实验室检测装置进行检测时进行光电定位，获取所述片上实验室的当前位置，并通过所述光电传感器检测通道内界面气‑液介面变化，获知液体是否充满整个反应区以及是否含有气泡杂质。此外，本发明还提出了一种片上实验室光电检测方法。这样，所述光电传感器与所述光栅孔相互配合，提高了对片上实验室光电检测精度，确保片上实验室中的液体完全达到检测要求，准确知道片上实验室的当前位置。

《一种片上实验室光电检测装置及方法（24年授权）（5件专利为技术壁垒）》是一发明专利，专利号为 2019106194959，当前法律状态为已下证，由深圳金迈隆电子技术有限公司提出申请，发明人为谢维芬，申请日期为2019-07-10，公开（公告）日期为2024-01-02，国际专利分类号（IPC）为 G01N 35/00 (2006.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：芯片测试技术微流控芯片半导体器件芯片科学生物、化学、医学。该专利已下发证书，权利稳定，适合直接办理转让过户，是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明公开的片上实验室光电检测装置，包括设置在片上实验室反应区入口的第五光栅孔和反应区出口的第六光栅孔，设置在片上实验室检测装置的光电传感器，通过所述光电传感器与所述光栅孔相互配合，用于当所述片上实验室插入所述片上实验室检测装置进行检测时进行光电定位，获取所述片上实验室的当前位置，并通过所述光电传感器检测通道内界面气‑液介面变化，获知液体是否充满整个反应区以及是否含有气泡杂质。此外，本发明还提出了一种片上实验室光电检测方法。这样，所述光电传感器与所述光栅孔相互配合，提高了对片上实验室光电检测精度，确保片上实验室中的液体完全达到检测要求，准确知道片上实验室的当前位置。

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