基于Bagging框架SVM继电器贮存寿命预测方法

本发明属于继电器贮存寿命预测算法优化领域，具体地说，是一种基于Bagging框架的SVM电磁继电器贮存寿命预测方法,主要分为两个部分，第一个部分是有放回的采样Bootstrap，第二个部分是融合Aggregating，其中的模型训练使用SVM算法，利用Bagging和SVM在处理小样本数据方面的优势，解决小样本数据寿命预测难以估算和精度不高的问题。用Bagging框架进行数据的采样以及融合，每一个子模型运用SVM进行样本数据训练，通过改进后的算法，可以提高继电器小样本数据贮存寿命预测的精度，减小误差，避免过拟合。以此训练出更精确的预测模型对电磁继电器的贮存寿命进行预测。为电磁继电器的贮存可靠性研究提供一种新的思路，对系统的可靠性研究也有着重要的意义。

《基于Bagging框架SVM继电器贮存寿命预测方法》是一发明专利，专利号为 2020104910942，当前法律状态为已售，由江苏科技大学提出申请，发明人为王召斌;李维燕;尚尚;李朕;陈康宁;何康宁;李震，申请日期为2020-06-02，公开（公告）日期为2023-12-01，国际专利分类号（IPC）为 G06F 18/2411 (2023.01)，高新资质：未报高企，所属技术领域包括：电路控制，电力保护，控制系统，电磁继电器，计算机，模型，算法，机器人，人工智能。该专利权属清晰，可通过正规流程办理转让，适用于企业技术升级、资质申报与战略布局。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更（过户）的一站式专利转让服务，专业顾问全程协助，确保交易合规、安全、高效。专利摘要：本发明属于继电器贮存寿命预测算法优化领域，具体地说，是一种基于Bagging框架的SVM电磁继电器贮存寿命预测方法,主要分为两个部分，第一个部分是有放回的采样Bootstrap，第二个部分是融合Aggregating，其中的模型训练使用SVM算法，利用Bagging和SVM在处理小样本数据方面的优势，解决小样本数据寿命预测难以估算和精度不高的问题。用Bagging框架进行数据的采样以及融合，每一个子模型运用SVM进行样本数据训练，通过改进后的算法，可以提高继电器小样本数据贮存寿命预测的精度，减小误差，避免过拟合。以此训练出更精确的预测模型对电磁继电器的贮存寿命进行预测。为电磁继电器的贮存可靠性研究提供一种新的思路，对系统的可靠性研究也有着重要的意义。

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